GB 7005-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用)
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 01:29:03 浏览:8200
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 调整为SJ/T 10808-1996 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1987-08-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 17页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:GeometricalProductSpecifications(GPS)-Surfacetexture:Profilemethod-Surfaceshavingstratifiedfunctionalproperties-Part1:Filteringandgeneralmeasurementconditions(ISO13565-1:1996);GermanversionENISO13565-1:1997
【原文标准名称】:几何制品规范.表面结构:轮廓法.具有分层功能特性表面.第1部分:筛选和一般测量条件
【标准号】:DINENISO13565-1-1998
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1998-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:一份;表面特性;解释;划痕试验程序;滤波;基准线;测量条件;物理性能测量;额定值;参数;表面;粗糙度(表面);表面纹理;特性;表面粗糙度测定;近似法;材料;表面性质;试验条件;试验;精整;测量
【英文主题词】:
【摘要】:Thedocumentdescribesafilteringmethodforusewithsurfacesthathavedeepvalleysbelowamorefinelyfinishedplateauwitharelativelysmallamountofwaviness.ThereferencelineresultingfromfilteringaccordingtoISO11562forsuchsurfacesisundesirablyinfluencedbythepresenceofthevalleys.Thefilteringapproachdescribedinthedocumentsuppressesthevalleyinfluenceonthereferencelinesuchthatamoresatisfactoryreferencelineisgenerated.
【中国标准分类号】:J04
【国际标准分类号】:17_040_30
【页数】:8P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
| 标准名称： | 冲模零件及其技术条件 冲模导正销 B型导正销 |
| 中标分类： |
机械 >>
工艺装备 >>
模具 |
| 替代情况： | 替代原标准号GB 2864.2-1981;被JB/T 7647.2-2008代替 |
| 发布日期： | 1994-12-09 |
| 实施日期： | 1995-06-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2008-07-01 |
| 归口单位： | 模具标委会 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 3 页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 机械 工艺装备 模具
